隨著半導體技術(shù)的飛速發(fā)展，芯片封裝技術(shù)面臨著越來越高的性能要求。導電銀膠作為一種關(guān)鍵的封裝材料，其性能直接影響到芯片的導電性、熱傳導性和長期可靠性。科準測控小編認為，全面了解導電銀膠的性能參數(shù)及其評估方法，對于封裝工藝的優(yōu)化和產(chǎn)品質(zhì)量的提升至關(guān)重要。
本文科準測控小編將系統(tǒng)介紹導電銀膠的力學性能測試方法、評估原理、測試標準、儀器設(shè)備以及完整的測試流程，為半導體封裝工程師提供實用的技術(shù)參考。
一、導電銀膠評估原理
導電銀膠的性能評估基于材料科學和電子封裝的基本原理，主要包括以下幾個方面：
導電性能評估原理：基于歐姆定律，通過測量電壓降和電流計算電阻率
力學性能評估原理：基于材料力學理論，評估材料在不同應(yīng)力條件下的響應(yīng)
熱性能評估原理：基于聚合物相變理論和熱力學原理，評估材料的熱穩(wěn)定性
這些評估需要綜合考慮材料本身的特性及其與芯片、基板之間的相互作用。
二、關(guān)鍵參數(shù)及評估標準
1、力學性能
a、剪切強度
測試標準：JEDEC JESD22-B117、MIL-STD-883 Method 2019
評估方法：使用推拉力測試儀測量芯片脫離基板所需的最大力
合格標準：對于2mm×2mm芯片，剪切強度應(yīng)≥8kg
b、粘結(jié)強度
測試標準：ASTM D903、ASTM D4541
評估方法：
剝離強度測試：測量單位寬度的剝離力
拉伸強度測試：測量垂直方向的粘結(jié)力
合格標準：視具體應(yīng)用而定，通常要求≥5MPa
三、測試儀器介紹
1、Alpha W260推拉力測試儀
Alpha W260推拉力測試儀是評估導電銀膠力學性能的專業(yè)設(shè)備，具有以下特點：
高精度測量：采用24Bit超高分辨率數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保測試數(shù)據(jù)的高精度、高重復性和高再現(xiàn)性。
多功能測試：支持推力、拉力、剪切力等多種測試模式，適用于多種封裝形式和測試需求。
智能化操作：配備搖桿操作和X、Y軸自動工作臺，簡化了測試流程，提高了測試效率。
安全設(shè)計：每個工位均設(shè)有獨立安全高度和限速，有效防止誤操作對設(shè)備和樣品的損壞。
模塊化設(shè)計：能夠自動識別并更換不同量程的測試模組，適應(yīng)不同產(chǎn)品的測試需求。
2、推刀
3、常用工裝夾具
4、KZ-68SC-05XY萬能材料試驗機
四、測試流程
步驟一、樣品制備
選擇標準測試芯片和基板
按照供應(yīng)商推薦工藝點膠、貼裝
按規(guī)定的固化條件(溫度、時間、氣氛)固化銀膠
步驟二、力學性能測試流程
1、剪切強度測試(使用Alpha W260推拉力測試儀)
將樣品固定在測試平臺上
設(shè)置測試參數(shù)：測試速度、剪切高度等
啟動測試，推刀以恒定速度推動芯片
記錄芯片脫離時的最大力值
計算剪切強度：剪切強度=最大力值/芯片面積
2、粘結(jié)強度測試
a、剝離測試
將測試膠帶粘貼在固化后的銀膠表面
以恒定角度和速度剝離膠帶
測量剝離過程中的力值變化
b、拉伸測試
將樣品固定在拉伸夾具上
以恒定速度拉伸至樣品分離
記錄最大拉伸力
步驟三、結(jié)果分析與可靠性評估
測試完成后，需要對數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析：
計算平均值、標準差等統(tǒng)計量
與標準要求或歷史數(shù)據(jù)進行對比
評估批次一致性
以上就是小編介紹的有關(guān)于半導體芯片封裝用導電銀膠的評估與可靠性測試相關(guān)內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)韼椭∪绻€想了解更多關(guān)于電阻推力圖片、測試標準、測試方法和測試原理，推拉力測試機怎么使用視頻和圖解，使用步驟及注意事項、作業(yè)指導書，原理、怎么校準和使用方法視頻，推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻 ，焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題，歡迎您關(guān)注我們，也可以給我們私信和留言，【科準測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。
